Nečistoty a defekty na elektronických součástkách

I tento rok se můžete těšit sérii spektroskopických webinářů. Ve druhém tématu se budeme zaobírat FTIR a Ramanovou analýzou nejrůznějších elektronických komponent, jejich defekty a nečistotami, které mají vliv na funkčnost.



Dozvíte se:

  • Které části elektroniky můžete analyzovat (PCB, křemík, …).
  • Jak analýzou složení defektu odhalíte chybu ve výrobním procesu.
  • Jak lze jedním zařízením provádět kontrolu kvality i materiálový výzkum.

Podrobnosti o akci:

  • Termín konání - 10.3.2021 v 10:00.
  • Společný registrační formulář ZDE.
  • Délka – 40 minut + diskuse.
  • Forma: MS Teams – odkaz pro připojení bude zaslán na registrační mail nejpozději 24 hodin před konáním webináře (není potřeba nic instalovat).
  • Účast na akci je ZDARMA.

Související produkty:

LUMOS II

LUMOS II

Plně automatizovaný FTIR mikroskop pro chemický imaging

ALPHA II

ALPHA II

Nová generace rutinní FTIR analýzy

INVENIO série

INVENIO série

Skvělá volba pro rutinní i pokročilé výzkumné aplikace

Související aplikace: