LiteScope™

Revoluční AFM mikroskop pro snadnou integraci do SEM

Kombinace komplementárních mikroskopických technik AFM a SEM pomocí mikroskopu LiteScope^TM přináší mnoho inovací a výhod:

• Výborný výkon a citlivost
• Unikátní Korelativní Rastrující a Elektronová Mikroskopie (CPEM) pro společnou SEM a AFM analýzu dané plochy.
• Velké množství sond a měřících módů
• Jednoduchá integrace do již instalovaných SEM
• Jednoduchá instalace a deinstalace
• Možnost práce jako Stand-Alone systému
• Možnost měření v náklonu 0° – 60°, min. WD = 5 mm
• Kompatibilita s FIB, GIS, EDX a dalším příslušenstvím
• Uživatelsky příjemný software

Spolehlivá analýza vzorků zahrnující:

• Charakterizaci povrchu, topografii
• Studium mechanických vlastností
• Studium elektrických vlastností
• Studium magnetických vlastností